TOP-Complex II 綜合斷口圖像分析儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和 《GBT 21143-2014 準(zhǔn)靜態(tài)斷裂韌度統(tǒng)一試驗方法》、《GB-T 4161-2007金屬材料平面應(yīng)變斷裂韌度KIC試驗方法》中對斷口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗沖擊試樣斷口精密測量的精密儀器。
該產(chǎn)品適用于對金屬材料斷口、Kic、Jic斷裂韌性裂紋長度測量、線、角度、圓心、矩形、試樣尺寸等測量分析工作。通過其特定的電子光學(xué)采樣系統(tǒng)將沖擊試樣斷口形貌進(jìn)行全視野實時采樣,可完成對斷裂韌性斷口等分測量。操作方便,準(zhǔn)確率高,并能進(jìn)行以往手工不能完成的操作。儲存的結(jié)果數(shù)據(jù)可供用戶進(jìn)行反復(fù)核對處理。
·尺寸測量
自動捕捉被測試樣邊緣,通過選擇捕捉范圍,系統(tǒng)自動多點(diǎn)自動捕捉被測試樣的邊緣,如長度、角度、圓等;
自動尺寸測量,多種尺寸測量構(gòu)建,滿足所有常規(guī)尺寸測量自動構(gòu)建;特殊尺寸測量構(gòu)建,通過系統(tǒng)自動滿足特殊尺寸自動測量;如:自動構(gòu)建兩圓心水平直線中線點(diǎn)于點(diǎn)的自動構(gòu)建自動測量。
自定義測量模板,瞬間自動測量最多99種尺寸構(gòu)建、測量;
采用我公司新技術(shù)像素解析技術(shù)(將一個像素解析分解千百個小塊),更精確的捕捉,更精確的測量。
·斷口測量
自動均分段落,自動計算數(shù)據(jù);
多種測量方式,滿足各種斷裂韌性斷面測量及分析;
多面積測量,采用像素解析技術(shù)選擇被測區(qū)域邊緣;
自動紅外對焦,大景深、大視場、無畸變(采用畸變修復(fù)技術(shù));
·硬件
高像素光學(xué)采集系統(tǒng),高清晰的成像系統(tǒng);
高識別率、微畸變大景深的專用鏡頭;
低功耗、高亮度、無影專用LED光源;
·試樣類型:CT試樣、彎曲試樣等
·測量視場范圍:60mm×45mm(可選80×60mm)
·測量方式:手動、自動、模板(自由切換)
·測量分辨率:0.001mm
·重復(fù)測量精度:<0.005mm
·報告格式:EXCEL
·外形尺寸:350×400×1050mm
·總功率:200W 220V/50Hz
·使用環(huán)境要求:周圍環(huán)境無腐蝕介質(zhì),無震動,無強(qiáng)電磁場干擾
·Kic、Jic斷裂韌性裂紋長度測量
CT試樣尺寸測量
·多種宏觀斷口測量
·多種面積、百分比測量
持久試樣尺寸、缺口測量
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